Меню
Главная
Случайная статья
Настройки
|
Оксид гафния(IV) — бинарное неорганическое соединение металла гафния и кислорода с формулой , бесцветные кристаллы или белый порошок, нерастворим в воде, из растворов солей выделяется в виде кристаллогидрата.
Содержание
Получение
Сжиганием металлического гафния в кислороде:
- .
Действием перегретого пара на металлический гафний:
- .
Разложением при нагревании дигидроксид-оксида гафния:
- .
Окислением кислородом хлорида гафния(IV):
- .
Разложением при нагревании оксид-дихлорида гафния:
- .
Разложением перегретым паром оксид-дихлорида гафния:
- .
Пиролизом оксалата, сульфата и других солей гафния:
- .
Физические свойства
Оксид гафния(IV) представляет собой бесцветные кристаллы, в мелкодисперсном состоянии — белый порошок, кристаллизуется в нескольких кристаллических модификациях:
- Моноклинная сингония, параметры ячейки a = 0,511 нм, b = 0,514 нм, c = 0,528 нм, = 99,73°, плотность 9,68 г/см, устойчива при температуре ниже 1650 °С.
- Тетрагональная сингония, параметры ячейки a = 0,514 нм, c = 0,525 нм, плотность 10,01 г/см, устойчива при температуре от 1650 °С и до 2500 °С.
- Кубическая сингония, параметры ячейки a = 0,511 нм, плотность 10,43 г/см, устойчива при температуре выше ~2500 °С.
Не растворяется в воде, р ПР = 63,94.
Химические свойства
При осаждении из водных растворов образуется осадок плохо растворимого желтоватого гидрата состава .
Прокалённый оксид гафния химически более инертен.
Гидратированная форма при нагревании разлагается до дигидроксид-оксида гафния:
- .
Медленно реагирует с серной кислотой:
- .
Реагирует с концентрированной плавиковой кислотой:
- .
Реагирует с галогенами в присутствии восстановителей:
- .
При сплавлении с гидроксидами, оксидами щелочных металлов образует соли гафниевой кислоты — гафнаты:
- .
Применение
Примечания
- Pan Kwi Park, Sang-Won Kang: Enhancement of dielectric constant in HfO2 thin films by the addition of Al2O3. In: Applied Physics Letters. 89, 2006, S. 192905, doi:10.1063/1.2387126.
- M. N. Jones, Y. W. Kwon, D. P. Norton: Dielectric constant and current transport for HfO2 thin films on ITO. In: Applied Physics A. 81, 2005, S. 285–288, doi:10.1007/s00339-005-3208-2.
- Intel. Intel's Fundamental Advance in Transistor Design Extends Moore's Law, Computing Performance (11 ноября 2007). Дата обращения: 23 сентября 2018. Архивировано 23 декабря 2018 года.
- Александр Дубов. Наночастицы оксида гафния помогут обнаружить и удалить зубной налет . nplus1.ru. Дата обращения: 21 августа 2018. Архивировано 21 августа 2018 года.
Литература- Химическая энциклопедия / Редкол.: Кнунянц И. Л. и др.. — М.: Советская энциклопедия, 1988. — Т. 1. — 623 с.
|
|